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电脑主板故障诊断卡代码对照表(1)

放大字体  缩小字体 发布日期:2009-11-09  来源:互联网  作者:manage  浏览次数:713
核心提示:00.已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。. 01处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。CPU寄存器测试正在进行或者失败。 02确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效
 
 

00 . 已显示系统的配置;即将控制INI19引导装入。 . 

01 处理器测试1,处理器状态核实,如果测试失败,循环是无限的。 处理器寄存器的测试即将开始,不可屏蔽中断即将停用。 CPU寄存器测试正在进行或者失败。 

02 确定诊断的类型(正常或者制造)。如果键盘缓冲器含有数据就会失效。 停用不可屏蔽中断;通过延迟开始。 CMOS写入/读出正在进行或者失灵。 

03 清除8042键盘控制器,发出TESTKBRD命令(AAH) 通电延迟已完成。 ROM BIOS检查部件正在进行或失灵。 

04 使8042键盘控制器复位,核实TESTKBRD。 键盘控制器软复位/通电测试。可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。 

05 如果不断重复制造测试1至5,可获得8042控制状态。 已确定软复位/通电;即将启动ROM。 DMA初如准备正在进行或者失灵。 

06 使电路片作初始准备,停用视频、奇偶性、DMA电路片,以及清除DMA电路片,所有页面寄存器和CMOS停机字节。已启动ROM计算ROM BIOS检查总和,以及检查键盘缓冲器是否清除。 DMA初始页面寄存器读/写测试正在进行或失灵。 

07 处理器测试2,核实CPU寄存器的工作。 ROM BIOS检查总和正常,键盘缓冲器已清除,向键盘发出BAT(基本保证测试)命令。 . 

08 使CMOS计时器作初始准备,正常的更新计时器的循环。 已向键盘发出BAT命令,即将写入BAT命令。 RAM更新检验正在进行或失灵。 

09 EPROM检查总和且必须等于零才通过。 核实键盘的基本保证测试,接着核实键盘命令字节。第一个64K RAM测试正在进行。 

0A 使视频接口作初始准备。 发出键盘命令字节代码,即将写入命令字节数据。 第一个64K RAM芯片或数据线失灵,移位。 

0B 测试8254通道0。 写入键盘控制器命令字节,即将发出引脚23和24的封锁/解锁命令。第一个64K RAM奇/偶逻辑失灵。 

0C 测试8254通道1。 键盘控制器引脚23、24已封锁/解锁;已发出NOP命令。第一个64K RAN的地址线故障。 

0D 1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。3、视频通道测试,如果失败,则鸣喇叭。已处理NOP命令;接着测试CMOS停开寄存器。 第一个64K RAM的奇偶性失灵 

0E 测试CMOS停机字节。 CMOS停开寄存器读/写测试;将计算CMOS检查总和。初始化输入/输出端口地址。 

0F 测试扩展的CMOS。 已计算CMOS检查总和写入诊断字节;CMOS开始初始准备。 . 

10 测试DMA通道0。 CMOS已作初始准备,CMOS状态寄存器即将为日期和时间作初始准备。第一个64K RAM第0位故障。 

11 测试DMA通道1。 CMOS状态寄存器已作初始准备,即将停用DMA和中断控制器。第一个64DK RAM第1位故障。 

12 测试DMA页面寄存器。 停用DMA控制器1以及中断控制器1和2;即将视频显示器并使端口B作初始准备。第一个64DK RAM第2位故障。 

13 测试8741键盘控制器接口。 视频显示器已停用,端口B已作初始准备;即将开始电路片初始化/存储器自动检测。第一个64DK RAM第3位故障。 

14 测试存储器更新触发电路。 电路片初始化/存储器处自动检测结束;8254计时器测试即将开始。第一个64DK RAM第4位故障。 

15 测试开头64K的系统存储器。 第2通道计时器测试了一半;8254第2通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第5位故障。 

16 建立8259所用的中断矢量表。 第2通道计时器测试结束;8254第1通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第6位故障。 

17 调准视频输入/输出工作,若装有视频BIOS则启用。 第1通道计时器测试结束;8254第0通道计时器即将完成测试。第一个64DK RAM第7位故障。 

18 测试视频存储器,如果安装选用的视频BIOS通过,由可绕过。 第0通道计时器测试结束;即将开始更新存储器。第一个64DK RAM第8位故障。 

19 测试第1通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 已开始更新存储器,接着将完成存储器的更新。第一个64DK RAM第9位故障。 

1A 测试第2通道的中断控制器(8259)屏蔽位。 正在触发存储器更新线路,即将检查15微秒通/断时间。第一个64DK RAM第10位故障。 

1B 测试CMOS电池电平。 完成存储器更新时间30微秒测试;即将开始基本的64K存储器测试。第一个64DK RAM第11位故障。 

1C 测试CMOS检查总和。 . 第一个64DK RAM第12位故障。 

1D 调定CMOS配置。 . 第一个64DK RAM第13位故障。 

1E 测定系统存储器的大小,并且把它和CMOS值比较。 . 第一个64DK RAM第14位故障。 

1F 测试64K存储器至最高640K。 . 第一个64DK RAM第15位故障。 

 
 
 
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